评估电子行业环境因素和金属表面劣化的新分析方法

抽象的

弗朗西斯科·拉米雷斯·莫雷诺、塞巴斯蒂安·维拉德·科尔多瓦、埃克托·亚历杭德罗·佩雷斯·莫利纳、霍梅罗·海梅·罗德里格斯·森特诺和古斯塔沃·洛佩斯·巴迪拉

基于工业和计算工程工具的使用，开发了一种使用 VEGAM 矩阵的新方法，用于快速有效地检测环境（气候和空气污染）对电子行业使用的设备和机器的影响。这是由位于墨西卡利技术研究所的国家技术研究所的专家开发的工作人员完成的，在墨西卡利市的电子工业中的应用中获得了 95% 的效率。