国际标准期刊号: 2168-9792
卡迈勒·纳因·乔普拉*、瑞图·瓦利亚
本文提出了纳米自旋电子器件和电子/核自旋量子计算性能优化的技术分析。简要讨论了这些概念的数学公式和简要理论。本文还对一些重要的基于纳米自旋电子学的设备以及激光显微镜在航空航天工业中的应用进行了定性回顾。这篇论文对于纳米自旋电子学器件领域的设计师和工程师来说应该是有用的。