质谱与纯化技术杂志
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通过选择反应监测 (SRM) 串联质谱了解分子对电喷雾电离 (ESI) 的响应：定义分子 ESI 指数 (MESII)

R Guleria、S Pasha、G Makharia 和 V Sabareesh

为了了解分子对电喷雾电离 (ESI) 的响应，定义了一个称为“分子电喷雾电离指数 (MESII)”的新参数。在 ESI 串联四极杆质谱仪上获取的选择反应监测 (SRM) 数据用于计算 MESII，我们将其表示为 εSRM：εSRM= - log（SRM 强度/溶液中离子或分子的数量）。使用相应化合物的分子量和阿伏加德罗常数来估计溶液中离子或分子的数量。选择辛伐他汀酸（SVA）、洛伐他汀（LV）和辛伐他汀（SV）作为模型化合物。对SVA、LV和SV的单质子化离子([M+H]+)进行正离子模式的SRM实验。在负离子模式下，SRM 仅研究 SVA，使用单去质子离子 ([MH]-) 作为母离子。因此，正离子模式下的估计 MESII 值为：ε+ SRM (SVA)=7.4288、ε+ SRM (LV)=7.4541 和 ε+ SRM (SV)=8.6833，而在负离子模式下，ε- SRM (SVA)=7.2253 。这个新定义的指数不仅给出了电离势（即电离程度）的概念，而且还可以作为分析物检测限（LOD）的指标。当利用不同类型仪器记录的化合物 SRM 数据时，MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。ε+SRM(LV)=7.4541和ε+SRM(SV)=8.6833并且在负离子模式下，ε-SRM(SVA)=7.2253。这个新定义的指数不仅给出了电离势（即电离程度）的概念，而且还可以作为分析物检测限（LOD）的指标。当利用不同类型仪器记录的化合物 SRM 数据时，MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。ε+SRM(LV)=7.4541和ε+SRM(SV)=8.6833并且在负离子模式下，ε-SRM(SVA)=7.2253。这个新定义的指数不仅给出了电离势（即电离程度）的概念，而且还可以作为分析物检测限（LOD）的指标。当利用不同类型仪器记录的化合物 SRM 数据时，MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。这个新定义的指数不仅给出了电离势（即电离程度）的概念，而且还可以作为分析物检测限（LOD）的指标。当利用不同类型仪器记录的化合物 SRM 数据时，MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。这个新定义的指数不仅给出了电离势（即电离程度）的概念，而且还可以作为分析物检测限（LOD）的指标。当利用不同类型仪器记录的化合物 SRM 数据时，MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。MESII 值可能出现的变化有助于了解不同仪器配置/方法对该化合物电离程度的影响。基质对分析物电离程度的影响也可以从 MESII 值的差异来理解。此外，也可以利用 MESII 进行定量。