质谱与纯化技术杂志

质谱与纯化技术杂志
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国际标准期刊号: 2469-9861

抽象的

利用量子科学预见硅电子电离质谱

约翰·弗杜伊

通过质谱法进行化合物区分证明需要参考质谱。在这里,我们测试量子科学技术,通过将亚原子元素与事实策略相结合来产生硅片 EI 质谱。为了测试预测的准确性,我们创建了小粒子的计算机质谱,并将其与 NIST 超凡脱俗的质量库中的测试光谱进行了对比。自然氧增强的协调性与准确性较低,而计算时间随着亚原子尺寸的增加而急剧增加。测试边界空间以建立期望的准确性,包括起始温度、MD方向的数量和效应丰度能量

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